Différents outils d’analyse de défaillance permettent de fiabiliser la fabrication de circuits intégrés (CIs). Ils permettent d’observer le fonctionnement d’un circuit au niveau de ses portes logiques et de ses transistors afin d’identifier un éventuel défaut. Ces outils occupent une place essentielle dans le processus de fabrication des CIs. Ils peuvent également être utilisés à des fin de rétro-ingénierie dans le but. de faciliter les attaques matérielles visant les circuits sécurisés. Cette présentation s’intéresse plus particulièrement à l’analyse de l’émission de photons d’un circuit afin de faciliter les attaques par injection de fautes par laser.
